直流金屬電阻率測試儀簡介：

具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

金屬電阻率測試儀參數(shù)：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)

直 徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限

方測試臺直接測試方式 180mm×180mm，手持方式不限. 長(高)度： 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.

BEST-300C 測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻（薄片電阻率）R 口

以及體電阻 R，測量時需調(diào)整相應的修正系數(shù)和選擇相應的功能。

本產(chǎn)品不但提供了電阻率ρ、方塊電阻 R 口以及體電阻 R 測試的基本修正系數(shù)設(shè)定， 還提供了產(chǎn)品厚度 G、外形和測試位置的修正系數(shù) D 設(shè)定，極大的提高了測試精度。測試類別的快捷選擇方式，方便了用戶同時測試多個參數(shù)，提高測試效率。整機測量最大相對誤差：≤±3%；整機測量標準不確定度：≤±3%四位半顯示讀數(shù)；八量程自動或手動測試；范圍寬： 電阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；正反向電流源修正測量電阻誤差恒流源：電流量程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配有恒流源開關(guān)可有效保護被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開恒流源開關(guān)，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時，恒流源開關(guān)可一直處于開的狀態(tài)。可配合多種探頭進行測試；也可配合多種測試臺進行測試。校正功能：可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。厚度可預設(shè)，自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。雙電測測試模式，測量精度高、穩(wěn)定性好.具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結(jié)果偏差。比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。

3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結(jié)果。測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現(xiàn)遠程控制。U盤可記錄測試數(shù)據(jù)軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點的測試數(shù)據(jù)；可供用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分

在設(shè)定模式下（設(shè)定完畢，保存好數(shù)據(jù)后），選擇測量類別（電阻率ρ、方塊電阻

（薄片電阻率）R 口或體電阻 R 中三選一，切換儀器到“測量"模式，窗口左側(cè)“測量" 模式燈亮。電阻測量,注意良好接觸，電壓測試端在內(nèi)側(cè)；半導體參數(shù)測試，將探針與樣品良好接觸，注意壓力要適中；由數(shù)字顯示窗直接讀出測量值。

注意！測量狀態(tài)中，電流量程默認為自動方式，也可調(diào)整為手動方式，手動方式下， 電流量程適合的，儀器會穩(wěn)定顯示數(shù)據(jù)，電流量程不適合的會給出超量程或欠量程閃爍提示，對于超量程，說明電流過大，要調(diào)到較小電流檔；對于欠量程，說明電流過小， 要調(diào)到較大電流檔。

直流金屬電阻率測試儀技術(shù)指標              

1、電阻測量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字彩屏觸摸顯示

4、內(nèi)置測試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度：1%

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%

7、機內(nèi)測試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、顯示類別：電阻、電阻率、電流。

10、輸入方式：真彩64位手寫觸摸。

11、顯示結(jié)果：電阻、電阻率、電流。

12、試驗要求：直徑大于100mm(小于此尺寸，電極需定做)