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液體介質(zhì)損耗測(cè)試儀

型 號(hào)BQS-37A

更新時(shí)間2023-08-09

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報(bào)價(jià)

產(chǎn)品描述:液體介質(zhì)損耗測(cè)試儀是由二只測(cè)微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。

產(chǎn)品概述

液體介質(zhì)損耗測(cè)試儀介:

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低。

可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻。

多重保護(hù)安全可靠?jī)x器具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能,確保不接地設(shè)備不允許升壓。

1

使用條件

-15℃∽40℃

RH<80%

2

抗干擾原理

變頻法

3

電    源

AC 220V±10%

允許發(fā)電機(jī)

4

高壓輸出

0.5KV∽10KV

每隔0.1kV



精    度

2%



最大電流

200mA



容    量

2000VA

5

自激電源

AC 0V∽50V/15A

50HZ、60HZ單頻

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ

自動(dòng)雙變頻

6

分 辨 率

tgδ: 0.001%

Cx: 0.001pF

7

精    度

△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)



△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)

8

測(cè)量范圍

tgδ

無限制



C x

15pF < Cx < 300nF




10KV

Cx < 40  nF




5KV

Cx < 150 nF




1KV

Cx < 300 nF

CVT測(cè)試

Cx < 300 nF

9

外型尺寸(主機(jī))(mm)

350(L)×270(W)×270(H)

外型尺寸(附件箱)(mm)

350(L)×270(W)×160(H)

10

存儲(chǔ)器大小

200 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

11

重量(主機(jī))

22.75Kg

重量(附件箱)

5.25Kg


面板說明.png

圖4-2.png

1、緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

2、復(fù)位按鈕

3、USB接口

4、總電源開關(guān)

5、AC220V電源輸入插座

6、Cx:試品輸入插座

7、觸摸顯示屏

8、接地接線柱

9、ES自激輸出

10、打印機(jī)

11、高壓輸出HV插座


液體介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法:

高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1.測(cè)試注意事項(xiàng)

a.本儀器應(yīng)水平安放;

b.如果你需要較地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時(shí),當(dāng)接近諧振點(diǎn)時(shí)請(qǐng)緩調(diào);

d.被測(cè)件和測(cè)試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測(cè)量誤差;

e.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

2.高頻線圈的Q值測(cè)量(基本測(cè)量法)

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