電壓擊穿試驗(yàn)儀擊穿的判斷（體積表面電阻率測(cè)試儀）
點(diǎn)擊次數(shù)：3550 更新時(shí)間：2014-09-19
在電擊穿的同時(shí),回路中電流增加和試樣兩端電壓下降,電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷,但有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試驗(yàn)充電電流、漏電或局部放電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路器跳開(kāi).因此,斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配,否則,斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作,這樣便不能正確的判斷出是否擊穿.即使在條件下,也存在周?chē)嘿|(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生,因此試驗(yàn)過(guò)程中要注意觀察和檢測(cè)這些現(xiàn)象,若發(fā)現(xiàn)煤質(zhì)擊穿,應(yīng)在報(bào)告中注明.
注:對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要那些材料,在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說(shuō)明.
在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷,無(wú)論通道是否充有碳粒,當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道.當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí),要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效.可以通過(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別,再次施加的電壓值應(yīng)小于*次施加的擊穿電壓值.試驗(yàn)證明,再次施加的電壓值為*次擊穿電壓值的50%比較合適,然后用與*次試驗(yàn)相同的方法升壓直到在破壞。
注:對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要那些材料,在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說(shuō)明.
在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷,無(wú)論通道是否充有碳粒,當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道.當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí),要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效.可以通過(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別,再次施加的電壓值應(yīng)小于*次施加的擊穿電壓值.試驗(yàn)證明,再次施加的電壓值為*次擊穿電壓值的50%比較合適,然后用與*次試驗(yàn)相同的方法升壓直到在破壞。
